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10-9
掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡)是一種大型精密儀器,主要結(jié)構(gòu)包括電子光學系統(tǒng)、信號收集、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng),是機械學、光學、電子學、熱學、材料學、真空技術等多門學科的綜合應用。掃描電鏡是一種新型的電子光學儀器,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。掃描...
9-30
高光譜遙感圖像和常見的二維圖像不同之處在于,它在二維圖像信息的基礎上添加光譜維,進而形成三維的坐標空間。如果把成像光譜圖像的每個波段數(shù)據(jù)都看成是一個層面,將成像光譜數(shù)據(jù)整體表達到該坐標空間,就會形成一個擁有多個層面、按波段順序疊合構(gòu)成的三維數(shù)據(jù)立方體。高光譜遙感具有不同于傳統(tǒng)遙感的新特點:(1)波段多——可以為每個像元提供幾十、數(shù)百甚至上千個波段(2)光譜范圍窄——波段范圍一般小于10nm(3)波段連續(xù)——有些傳感器可以再350~2500nm的太陽光譜范圍內(nèi)提供幾乎連續(xù)的地物...
9-15
X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應進行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術。每一種結(jié)晶物質(zhì),都有其特定的晶體結(jié)構(gòu),包括點陣類型、晶面間距等參數(shù),用具有足夠能量的X射線照射試樣,試樣中的物質(zhì)受激發(fā),會產(chǎn)生二次熒光X射線(標識X射線),晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置(峰位)可以進行化合物的定性分析,測定譜線的積分強度(峰強度)可以進行定量分析,而測定譜線強度隨角度的變化關系可進行晶粒的大小和形狀的檢測。X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣,本質(zhì)上都屬于電磁波,...
9-11
掃描電鏡主要由電子光學系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)七大系統(tǒng)組成而成。利用掃描電鏡分析樣品時,首先要排除外界的干擾去除假象,盡量減少這些不利因素的影響,使分析結(jié)果更準確。制樣時產(chǎn)生的影響因素分析:1.樣品制備樣品的制備是能否得到重要信息的關鍵,若使用不正確的制樣程序,不僅會得不到清晰的圖像,而且有可能得到假象,即觀察到的圖像并不是真正的樣品內(nèi)部狀態(tài)或主要成分,所以試樣制備方法的選擇對于熱加工、熱處理等工藝問題或后續(xù)加...
8-17
掃描電鏡是一個復雜的系統(tǒng),濃縮了電子光學技術、真空技術、精細機械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機控制技術。掃描電鏡的基本工作過程用電子束在樣品表面掃描,同時陰極射線管內(nèi)的電子束與樣品表面的電子束同步掃描,將電子束在樣品上激發(fā)的各種信號用探測器接收,并用它來調(diào)制顯像管中掃描電子束的強度,在陰極射線管的屏幕上就得到了相應襯度的掃描電子顯微像。電子束在樣品表面掃描,與樣品發(fā)生各種不同的相互作用,產(chǎn)生不同信號,獲得的相應的顯微像的意義也不一樣。這些信息的二維強度分布隨試樣表面的特征而變(這些特征有...
8-13
掃描電鏡存在于我們的生活中,我們需要對它進一步地了解,以便更好地利用它為人類創(chuàng)造價值。我們來看看掃描電鏡的幾大組成系統(tǒng)吧!1.真空系統(tǒng)真空系統(tǒng)主要包括真空泵和真空柱兩部分。真空柱是一個密封的柱形容器。真空泵用來在真空柱內(nèi)產(chǎn)生真空。有機械泵、油擴散泵以及渦輪分子泵三大類,機械泵加油擴散泵的組合可以滿足配置鎢槍的SEM的真空要求,但對于裝置了場致發(fā)射槍或六硼化鑭槍的SEM,則需要機械泵加渦輪分子泵的組合。成像系統(tǒng)和電子束系統(tǒng)均內(nèi)置在真空柱中。真空柱底端即為右圖所示的密封室,用于放...
7-13
掃描電子顯微鏡(SEM)是1965年發(fā)明的較現(xiàn)代的細胞生物學研究工具,主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應,其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像,這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的,即使用逐點成像的方法獲得放大像。掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是,①有較高的放大倍...
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